전도성 원자간력현미경(C-AFM) — 표면 전도도를 이미지로 보는 법

전도성 원자간력현미경(Conductive AFM, C-AFM)은 원자간력현미경(AFM)에 도전성 탐침을 결합한 기법입니다. 탐침과 시료 사이에 일정한 전압을 걸고 표면을 스캔하면, 각 지점에서 흐르는 미세 전류(보통 pA~nA 수준)를 형상 정보와 동시에 기록합니다. 그 결과 "어디가 전기가 잘 통하고 어디가 막혀 있는지"를 나노미터 해상도의 전류 맵으로 볼 수 있습니다. 일반 전기 측정이 시료 전체의 평균값을 주는 것과 달리, C-AFM은 전도도의 공간 분포를 보여줍니다. 반도체 소자의 누설 경로 추적, 박막의 핀홀·절연 결함 탐지, 태양전지·배터리 전극의 전도 네트워크 확인, 2D 소재(그래핀 등)의 결함 분석에 쓰입니다. 표면 형상과 전류 신호를 같은 위치에서 얻으므로, 구조와 전기 특성의 상관을 직접 확인할 수 있다는 점이 가장 큰 강점입니다. 시료는 도전성 기판 위에 고정할 수 있어야 하며, 측정 면이 비교적 평탄해야 안정적인 결과를 얻습니다. 절연막이 두꺼운 시료는 전류가 검출 한계 아래로 떨어질 수 있어 사전 협의가 필요합니다. 어디서 받을 수 있나 — 아래 "이 분석이 가능한 업체"에서 확인할 수 있습니다. 아직 등록된 업체가 없다면 모집 중이니, C-AFM 장비를 보유한 업체는 입점을 신청해 주세요.