FT-IR 분광 분석 — 이 재료가 무엇인지 분자 지문으로 확인하기

FT-IR(푸리에 변환 적외선 분광법)은 시료에 적외선을 조사해 분자 결합이 흡수하는 파장을 스펙트럼으로 기록하는 기법입니다. 작용기마다 흡수 위치가 다르기 때문에, 스펙트럼은 물질의 "분자 지문"처럼 작동합니다. 라이브러리와 대조하면 미지 시료가 어떤 고분자·유기물인지 빠르게 좁혀갈 수 있습니다. 제조 현장에서 발견된 이물의 정체 확인, 납품 소재가 규격 수지와 일치하는지 검증, 코팅·표면 처리층의 확인, 변질·열화 여부 판단에 널리 쓰입니다. 필름·분말·액체 등 다양한 형태의 시료에 적용 가능하고, ATR 방식을 쓰면 전처리를 최소화한 채 표면을 바로 측정할 수 있습니다. 측정 자체는 통상 수 분 내로 끝나는 빠른 분석입니다. 어디서 받을 수 있나 — 아래 "이 분석이 가능한 업체"에 이 분석을 제공하는 업체와 예약 가능한 장비가 표시됩니다. 장비 상세에서 바로 예약을 신청하거나 문의를 남길 수 있습니다.